单晶超声波测厚仪（单晶超薄测厚型），采用脉冲反射超声波测量原理，适用于超声波能以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量，测量分辨率高达0.001mm。此仪器可对各种板材和各种加工零件作准确测量，适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度，可被广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
单晶超声波测厚仪仪器特点：
●采用高精度计时芯片和V-PATH校准模型，实现准确测量，显示分辨率高达0.001mm，可智能语音播报测量结果
●同时支持单晶探头和双晶探头，既可对超薄工件进行准确测量，又能兼顾常规大量程测量
●支持实时温度补偿，消除探头温度变化引起的测量误差，探头插入仪器后只需校准一次即可长期使用，无需频繁校准
●可进行穿越涂层测量（0—1000μm），并同时测量涂层和基材厚度（高级版）
●内置蓝牙模块，可与PC机或智能终端设备进行有线、无线数据传输，并可进行无线打印
●支持实时在线测量、上位机指令控制（指令版）
单晶超声波测厚仪主要功能：
●具有脉冲回波（P-E）、界面回波（I-E）和回波回波（E-E）多种测量方式，可进行常规测量和穿越涂层测量（部分功能仅限高级版）
●多档增益可调，可根据实际测量工件进行设置，在不同场景下达到较佳测量效果
●具有上下限扫描、差值测量、超限报警等多种测量模式
●已知厚度可以反测声速，以提高测量精度
●显示信息丰富，包括厚度值、声速、耦合状态、回波数、电量状态、时间等
●完整保存测量信息，包括测量厚度、测量声速、测量时间等
更新时间：2021-03-03 
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